環(huán)境試驗設(shè)備的可靠性執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)分析
上述環(huán)境試驗的相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)如下(部分試驗可能沒有相關(guān)國標(biāo),或者是我還沒有找到):
1、低溫試驗
按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法低溫試驗》;
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法溫度變化試驗方法》
進(jìn)行低溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍:-70℃~10℃。
2、高溫試驗
按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法高溫試驗》;
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法溫度變化試驗方法》
進(jìn)行高溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍:10℃~210℃
3、濕熱試驗
按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法恒定濕熱試驗》;
GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法交變濕熱試驗》
進(jìn)行恒定濕熱試驗及交變濕熱試驗。
濕度范圍:30%RH~RH
4、霉菌試驗
按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法長霉試驗》進(jìn)行霉菌試驗。
5、鹽霧試驗
按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法鹽霧試驗》進(jìn)行鹽霧試驗。
6、低氣壓試驗
按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法低氣壓試驗》;
GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法低溫/低氣壓試驗》;
GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法高溫/低氣壓試驗》;
進(jìn)行低氣壓試驗,高、低溫/低氣壓試驗。試驗范圍:-70℃~100℃0~760mmHg20%~95%RH。
7、振動試驗
按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法振動試驗》進(jìn)行振動試驗。
頻率范圍(機(jī)械振動臺):5~60Hz(定頻振動5~80Hz),它的移振幅3.5mm(滿載)。頻率范圍(電磁振動臺):5~3000Hz,位移25mmP-P。
8、沖擊試驗
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法沖擊試驗》進(jìn)行沖擊試驗。沖擊加速度范圍:(50~1500)m/s2。
9、碰撞試驗
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法碰撞試驗》進(jìn)行碰撞試驗。
10、跌落試驗
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法傾跌與翻到試驗》;
GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法自由跌落試驗》進(jìn)行跌落試驗。
說明:上面13項比較全面地概括了產(chǎn)品在實現(xiàn)使用過程中碰到的外界環(huán)境;實際測試時,因為各產(chǎn)品本身屬性的相差較遠(yuǎn)、使用環(huán)境相差也很大,各公司可以根據(jù)產(chǎn)品的特點,適當(dāng)選取、增加一些項目來測試(此產(chǎn)品對應(yīng)的國/行標(biāo)中要求的必測試項目,當(dāng)然是必須測試的);也可以根據(jù)產(chǎn)品特定的使用環(huán)境與使用方法,自行設(shè)計一些新測試項目,以驗證產(chǎn)品是否能長期工作。
測試條件:不同的產(chǎn)品測試條件不一樣;就拿高溫測試來說,有些產(chǎn)品要求做高溫貯存測試,有些要求做高溫運(yùn)行測試,有些產(chǎn)品的高溫用85℃做測試,有些產(chǎn)品的高溫是用65℃做測試。但是,宗旨只有一個,那就是至少滿足國/行標(biāo)。要測試一種產(chǎn)品的可靠性,找到這種產(chǎn)品的國/行標(biāo)是必需的,按照國/行標(biāo)的要求和指引找出必須的測試項目與各項目的測試方法,從而進(jìn)行環(huán)境測試;